高阻霍爾效應測試系統JH60E技術指標：
* 磁 場：10mm 間距為 2T ；30mm 間距為 1T
* 樣品電流：0.05uA~50mA(調節 0.1nA)
* 測量電壓：0.1uV~30V
* 提供各類測試標準材料，各級別硅與砷化鎵（靈敏度與精度不同）
* 最小分辨率：0.1GS
* 磁場范圍：0-1T
* 配合高斯計或數采板可計算機通訊
* I-V 曲線及 I-R 曲線測量等
* 霍爾系數、載流子濃度等參數隨溫度的變化曲線
* 電阻率范圍：5*10-4~108Ω.cm
* 電阻范圍：10 mΩ-100GΩ
* 載流子濃度：6*108~1023cm-3
* 遷移率：1~106cm2/vs
* 控溫精度: 0.1K
* 溫區：4K-773K（選配）
* 霍爾系數：±1*10-5~±1*1010cm3/C
* 測試全自動化，一鍵處理
* 可實現相同溫差間的連續測量
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各系統參數：
高精度電磁鐵
極頭直徑 100mm;
N，S 間距 10mm 時*大磁場 20000Gs;
N，S 間距 20mm 時*大 13000 高斯;
N, S 間距 30mm 時*大磁場 10000 高斯;
均勻區：間距 60mm 時直徑 10mm均勻度范圍; 1%
自重 110 公斤 含支架及輪子
高精度雙極性恒流電源
輸出： ±10A±80V 功率；800W
① 電源輸出電流可在正負額定*大電流之間連續變化
② 電流可以平滑過零點，非開關換向
③ 輸出電流、電壓四象限工作（適合感性負載）
④ 電流變化速率可設置范圍為 0.0007～0.3 F.S./s(F.S.為額定*大輸出電流）
※ 電流穩定度高，紋波低
①電流穩定度：優于±25ppm/h（標準型）；優 于±5ppm/h（高穩型）
② 電流準確度：±（0.01%設定值+1mA）
③ 電流分辨率：20 bit，例 15A 電源，電流分辨率為 0.03mA
④ 源效應：≤ 2.0×10-5 F.S.（在供電電壓變化 10%時，輸出電流變化量）
⑤ 負載效應：≤ 2.0×10-5 F.S.（在負載變化 10%時，輸出電流變化量）
⑥ 電流紋波（RMS）：小于 1mA
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高精度高斯計：
精度：讀數的±0.30% ;
分辨力：0.01mT 量程:0-3T ;
探頭厚度:1.0mm ;
長度 100mm 數字;
Rs-232 接口數據讀取軟件配 GP3 型探頭
高斯計探頭支架及樣品架 全鋁非導磁支架 5-70mm 可調
樣品架夾具（按要求定制）
霍爾效應系統軟件 可數字化調節磁場及電流,測試各類材料參數
高溫恒溫器： （293K-470K）高低溫真空容器
TESK301恒溫儀： 控溫（65k-600k)
真空泵 K25 真空泵
恒流源及測試表
恒流源量程：±50nA-±50mA；
分辨力 0.1nA 在量程范圍內連續可調；
高精度電壓數采儀范圍 0. 1uV-30V
精度：0.01%
內置測試矩陣轉換卡；
歐姆接觸套件 根據不同材料的歐姆接觸制作套件
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系統組成：
高阻霍爾效應測試系統由電磁鐵、真空泵、高溫真空腔、高斯計、恒流源、電磁鐵電流源、控溫儀和計算機及軟件組成。其中，電磁鐵電流源給電磁鐵提供電流產生磁場；高斯計測量電磁鐵產生的均勻磁場值；恒流源一方面給樣品提供樣品測試電流，用于霍爾效應測試，一方面用來測量樣品反饋的霍爾電壓；被測樣品置于高溫真空腔中，由高溫膠固定，并作為四個測試點；高溫真空腔引出 4 根導線，兩個連接控溫儀進行溫度的測量及控制，另 1 根是高溫探頭引線連接到高斯計上，還有 1 根是霍爾樣片連接線連接到恒流源上；計算機連接高斯計、控溫儀、恒流源和電磁鐵電流源，通過軟件實現控制通過被測樣品的電流和磁場值，并獲取測得的電壓值。
可測試材料: ?
半導體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等
低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等
高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等
