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FCP磁場控制平臺是根據磁控原理設計的理想磁測量系統，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計穩定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續可變的電磁氣隙，實心的和光學入口極帽，線型雙極，真實四象限電磁鐵電源。

霍爾效應測試系統 半導體材料測量儀 技術指標： * 磁 場：大于 5000 高斯（間距 18mm） * 樣品電流：±50 納安~±50 毫安（小可調節電流為 0.1nA） * 測量電壓：0.1 微伏~30 伏 * 提供各類測試標準材料，各級別硅與砷化鎵（靈敏度與精度不同） * 小分辨率： 1GS * 磁場范圍： 0.5T * 配合高斯計或數采板可計算機通訊

變溫霍爾測量系統組成：本儀器系統由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統軟件組成。為本儀器系統專門研制的 JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。

教學霍爾測試儀 半導體材料電學測量 技術指標： 磁 場：10mm 間距為 2T 30mm 間距為 1T * 樣品電流：0.05uA~50mA（調節 0.1nA） * 測量電壓：0.1uV~30V * 提供各類測試標準材料，各級別硅與砷化鎵（靈敏度與精度不同） * 小分辨率：0.1GS * 磁場范圍：0-1T * 配合高斯計或數采板可計算機通訊