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描述:錦正茂PT100型號薄膜鉑電阻低溫溫度計重復性:±10 mK@77K(通過100次300K到77K 的熱沖擊測試而來)
描述:高磁場霍爾效應實驗儀半導體材料測試系統內置測試矩陣轉換卡; 7 1 歐姆接觸套件 根據不同材料的歐姆接觸制作套件
描述:低溫減震導熱帶紫銅編織1.3mm厚規格:2.84mm寬,1.3mm厚/4mm寬,1.3mm厚
描述:磁光克爾效應測量系統磁輸運性能測量設備利用磁光克爾效應測量磁性薄膜的磁信號和磁滯回線,確定磁性薄膜的磁各向異性隨薄膜厚度的影響。
描述:探針臺多維磁場實驗裝置半導體材料測試三維探針臺和錦正茂自主研發的*精度雙極性電源相匹配,通過真正的雙極性電源輸出,實現了空間任意方向上的矢量場合成。
描述:錦正茂定制4K閉循環恒溫控制器實驗制冷設備用于低溫、真空環境下的磁學測量、光學測量、光電反應、光反射、熒光和磁阻等試驗。
聯系方式
86-010-82556022
服務熱線:010-8255602213601091939