芯片失效分析是芯片生產過程中另一項關鍵工作,旨在分析和診斷芯片在實際應用中出現故障的原因。探針臺在芯片失效分析中發揮著重要作用,能夠幫助工程師定位問題所在。具體應用如下:
故障定位與分析:在芯片出現功能異常時,探針臺可通過電氣測試幫助工程師定位故障點。通過比較故障芯片與正常芯片的電氣信號差異,探針臺能夠找出導致芯片失效的原因,如電路開路、短路或材料缺陷等。
故障復現與診斷:通過對芯片不同工作狀態下的測試,探針臺能夠幫助工程師復現故障現象。這對分析芯片故障的根本原因至關重要。通過不同環境條件(如溫度、壓力等)的模擬測試,探針臺還能夠進一步確認故障的具體原因。
多點測量:現代探針臺配備了多點測量探針系統,能夠同時對多個測試點進行測量。這樣一來,工程師能夠在短時間內對芯片的多個部分進行電氣測試,快速發現問題,并有效節省了分析時間。
